近日，西安光机所新型过问光谱成像技术钻研获得沉猛进展，以光谱室胡炳樑钻研员为首的钻研团队在国内率先将离轴三反光学系统利用于短波红表过问光谱成像系统中，并成功研造了基于M-Z像面过问光谱成像的离轴三反桌面样机系统。

面向宽覆盖、高分辨率、高光谱分辨率的要求，离轴三反加M-Z像面过问光谱成像技术能够有效解决大视场光学系统和大尺寸过问仪的技术瓶颈。M-Z过问仪搁置在系统汇聚光路中，在减幼系统体积和沉量的同时，能量利用率能够达到成像仪的极限;离轴三反光学系统则可能同时实现长焦距与大视场，并且没有中心遮拦，传递函数高。但在基于M-Z像面过问的光谱成像系统中，离轴全反射系统难以赔偿汇聚光路中M-Z过问仪棱镜元件所引入的像差，为此，科研人员将校对赔偿系统利用到离轴三反系统中，设计并成功研造了一种新型离轴三反成像光学系统，并针对离轴三反系统装调自由度多，结构非对称性以及离轴系统离轴量必要精确丈量调整等问题，解决了离轴非球面微应力装加注多自由度调整结构大局、离轴三反系统高精度装调等多项技术难点，为高分辨率、高光谱分辨率光谱成像技术奠定了坚实基础，并实现了必要的技术储蓄，使我所先进光谱成像技术达到了国内当先水平。

这次钻研工作获得沉猛进展的过程，充分体现了我所科研人员敢于攻关、勤于贡献、致力进取的心灵。由因而在国内初次发展基于过问光谱成像的离轴三反光学系统的钻研，研造难度大，功夫进度紧。在所各级辅导的关切支持下，项目掌管人胡炳樑钻研员积极牵头组织专家进行规划论证，为项目设计、加工和装调，在人员、技术、设备等多方面提供了强有力的支持;白清兰钻研员、熊望娥副钻研员敢于攻坚克难，通过屡次与领域内专家钻研，并组织科研人员无数次的会商、论证，最终确定了新型离轴三反光机系统的设计和初步装调规划，并亲自携带年轻科研人怨卦强、赵稳庄、孙剑、李勇、李立波、邹纯波、张宏建、赵瑞萍等参加项主张设计调试工作，实现了预期的研造指标;刘学斌钻研员携带王爽、皮海峰、张雯、王彩玲等年轻科研同道，加班加点顺利实现了低噪声短波红表电路的设计工作，为整系统调试的顺利进行做出了极大贡献;王忠厚钻研员、白加光钻研员等为项主张前期规划论证和整个过程的研造提供了大量的技术支持和援手;系统调试过程中，在系统工程部李华主任、检测中心赵建科主任的支持下，段嘉友、张建、李智勇蹬纂项目组亲昵共同，杰出实现了离轴三反光学系统装调工作。

日前，短波红表过问光谱成像系统的钻研工作仍在深刻进行中，科研人员将不休创新进取，力争获得更大成就。