平面度（flatness;planeness)，是属于形位公差中的一种，指物体表表拥有的宏观凹凸高度相对梦想平面的误差。在传统的检测步骤中，平面度的丈量通常有：塞规/塞尺丈量法、液平面法、激光平面过问仪丈量法（平晶过问法）、水平仪/数字水平仪丈量法、以及打表丈量法。

　　塞尺丈量法，只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前好多工厂仍使用该步骤进行检测。由于其精度不高，通例最薄塞尺为10um，检测效能较低，了局不够全面，只能检测零件边缘。

　　液平面法，基于连通器工作道理，适合丈量陆续或不陆续的大平面的平面度，但丈量功夫长，且对温度敏感，仅合用于丈量精度较低的平面。

　　激光平面过问仪丈量法，最典型的用法是平晶过问法。但重要于丈量光洁的幼平面的丈量，如千分头丈量面，量规的工作面，光学透镜。

　　水平仪丈量法，宽泛用于工件表表的直线度和平面度丈量。丈量精度高、不变性好、体积幼、携带方便。但是用该步骤丈量时必要反复移动仪器地位，纪录各测点的数据，费时、费劲，调整功夫长，数据处置法式繁琐。

　　打表丈量法，典型利用为平板测微仪及三坐标仪，其中优以三坐标仪为利用最宽泛。丈量时批示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各丈量点相对于丈量基准的数据，再经过数据处置评定出平面度误差。但其效能较低，通常一个样品必要几分钟，离15ppm的进展相差甚远。