造成滤光片中心波长漂移的重要原因蕴含：

       1、膜层的荟萃密度；

       2、膜层的折射率和儿何厚度随使用环境的变动而产生的变动
。就膜层荟萃密度而言，通例工艺下造备的薄膜荟萃密度通常都幼于1
。因而，随吸潮情况分歧，膜层的光学厚度变动可达l%~ 5%l，这意味着对于中心波长为777. 4 nm的闪电探测仪用超窄带滤光片，吸潮后的中心波长将向长波方向漂移7 7 - 37. 5 nm
。这衷殳移不仅随环境湿度变动而变动，并且当滤光片由高荟萃密度的致密膜和低荟萃密度的疏松膜组成时，由于致密膜的反对作用，波长漂移的功夫可持续儿天甚至儿个月，所以给滤光片的现实利用带来难题
。在早期，膜层内部的低荟萃密度造成的疏松结构是引起光谱漂移的重要原因
。此刻，选取离子束辅助(IBAD)、反映离子镀(RIP)以及离子束溅射(IBS)等沉积技术已可使膜层的荟萃密度达到蹬宗甚至大于一
。在这种情况下，膜层中被以为已不存在吸潮空地，由吸潮引起的光学厚度变动或波长漂移可忽略不计，因而膜层资料的热膨胀和折射率等随温度变动引起的中心波长漂移便成为重要成分
。由于它是由温度变动引起的，因而通常称为温度不变性
。 

       日本科学家高桥对滤光片的温度不变性作了极为深刻的钻研
。他指出，滤光片的温度不变性不仅与膜层有关，并且与基底资料有关，即温度不变性是由基底和薄膜两者相互作用的综合了局决定的
。随着滤光片温度的变动，不成预防线会产生膜层儿何厚度（由热膨胀系数决定）和膜层折射率（由膜层折射率温度系数决定1的变动
。但是这种变动能够通过选择基底的热膨胀系数，即调节基底扰爪力对膜层造成的弹性形变来进行赔偿
。他对热膨胀系数从0到142×l0.7/℃的8种基底资料进行了试验，得到的了局是，滤光片中心波长漂移从0 018 nm门C变动到0 005 nm门C
。因而，对于特定的膜系，从理论上总可找到零漂移时基底所对应的热膨胀系数
。 

       高桥模型的根基启程点是，当滤光片的环境温度产生变动时，一方面，膜层自身因热膨胀使得体积增大，造成膜层的均匀荟萃密度降低，导致膜层厚度和折射率变动；另方而，基底和膜系的扰爪力造成膜层的弹性形变，也会产生膜层的体积变动，引起膜层厚度和折射率变动
。这2个过程若能有效地赔偿，则能够实现滤光片中心波长零漂移
。